感应线圈激发检查法是对检查对象物进行检查时，利用感应线圈对导体金属进行非接触加热后，红外热像仪将金属温度下降过程中，完好区和缺陷区发生的温度变化和时间位相滞后图像化,从而对缺陷进行检测的方法。感应线圈激发无损检测有透射法和反射法两种方法。透射法是红外热像仪与感应线圈安装在检查对象物的两侧，利用检查对象物内部产生的、传导到检查对象物背面的热量进行缺陷检测的方法。反射法是红外热像仪与感应线圈在检查对象物的同一侧进行缺陷检测的方法。感应线圈产生的涡电流激发检查对象物，使检查对象物温度升高。同时在检查对象物表面产生同心圆状的均匀磁场。如果检查对象物表面有裂纹，同心圆状的均匀磁场就会绕过裂纹，形成磁场混乱的磁力线疏密差，从而发生检查对象物表面温度的不均匀分布。红外热像仪根据温度的不均匀分布检测出裂纹等缺陷。
红外热像仪无损检测通过对检查对象物施加各种热激发，对检查对象物内部缺陷进行图像化的检测评价。热激发的方法有许多种。应根据检查对象物的材料、热物性值、要求缺陷的大小和缺陷深度，选用适宜的热激发方法。高灵敏度高速红外热像仪可捕捉极微小的温度变化，与图像处理软件结合，可改善。
